туг

< Nebula зөөврийн компьютерын лити батерейны PCM туршилтын систем >

Nebula зөөврийн компьютерын лити батерейны PCM туршилтын систем

Энэ нь PCM-ийн нэгдсэн туршилтын систем бөгөөд зөөврийн компьютерын ли-ион батерейны PCM-ийн үндсэн болон хамгаалалтын шинж чанарыг үнэлэхэд тохиромжтой.It is primarily used for downloading parameters, calibrating, and testing the protection functions of Texas Instruments' Gas Gauge ICs (BQ20Z45, BQ20Z75, BQ28Z610, BQ3050, BQ3055, BQ3060, BQ40320, BQ40Z55, BQ40Z50, BQ30Z55, BQ34Z100, BQ9000, BQ40Z551, BQ27546 , BQ27742, болон BQ27741).

 

ОНЦЛОГ

Өргөн хүрээний, туршилтын өндөр нарийвчлал бүхий хийн хэмжигч IC-тэй нийцдэг

Засвар үйлчилгээ, солиход хялбар бие даасан, олон сувгийн модульчлагдсан загвар, мөн өгөгдөл тайлагнах төрөл бүрийн функцуудтай.

Бие даасан сувгууд зэрэгцээ туршилтыг нэгэн зэрэг, хурдан бөгөөд хүний ​​нөөцийг хэмнэдэг

Үзүүлэлтүүд

Загвар

BAT-NEZ-04-V006

Параметр

Хүрээ

Нарийвчлал

Аналог батерейны гаралтын хүчдэл

100~4800мВ

±1мВ

Аналог батерейны гаралтын гүйдэл

0~500мА

±1мА

Тогтмол гүйдлийн эх үүсвэрийн гаралтын хүчдэл

0~4000мВ

/

Тогтмол гүйдлийн эх үүсвэрийн гаралтын гүйдэл

20А~30А

±20мА

3А~20А

±10мА

20мА~3000мА

±1мА

Аналог батерейны гаралтын хүчдэлийн хэмжилт

100~4800мВ

±1мВ

Аналог батерейны гаралтын гүйдлийг хэмжих

0~500мА

±1мА

Тогтмол гүйдлийн эх үүсвэрийн гаралтын хүчдэлийн хэмжилт

0-4000мВ

/

Тогтмол гүйдлийн эх үүсвэрийн гаралтын гүйдлийг хэмжих

20А~30А

±10мА

3А~20А

5 мА

20мА~3000мА

±1мА

холбогдох мэдээлэл

Энд мессежээ бичээд бидэнд илгээгээрэй